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PCB/PCBA失效分析思路

PCB/PCBA失效分析思路

  • 分類(lèi):測試項目案例
  • 作者:
  • 來(lái)源:
  • 發(fā)布時(shí)間:2022-05-24 17:17
  • 訪(fǎng)問(wèn)量:

【概要描述】

PCB/PCBA失效分析思路

【概要描述】

  • 分類(lèi):測試項目案例
  • 作者:
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  • 發(fā)布時(shí)間:2022-05-24 17:17
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詳情

PCB在實(shí)際可靠性問(wèn)題失效分析中,同一種失效模式,其失效機理可能是復雜多樣的,因此就如同查案一樣,需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段,方能找到真正的失效原因。在此過(guò)程中,任何一個(gè)環(huán)節稍有疏忽,都有可能造成“冤假錯案”。

 

可靠性問(wèn)題的一般分析思路

 

背景信息收集

 

背景信息是可靠性問(wèn)題失效分析的基礎,直接影響后續所有失效分析的走向,并對最終的機理判定產(chǎn)生決定性影響。因此,失效分析之前,應盡可能地收集到失效背后的信息,通常包括但不僅限于:

 

(1)失效范圍:失效批次信息和對應的失效率

①若是大批量生產(chǎn)中的單批次出問(wèn)題,或者失效率較低時(shí),那么工藝控制異常的可能性更大;

②若是首批/多批次均有問(wèn)題,或者失效率較高時(shí),則不可排除材料和設計因素的影響;

 

(2)失效前處理:失效發(fā)生前,PCB或PCBA是否經(jīng)過(guò)了一系列前處理流程。常見(jiàn)的前處理包括回流前烘烤、有/無(wú)鉛回流焊接、有/無(wú)鉛波峰焊接和手工焊接等,必要時(shí)需詳細了解各前處理流程所用的物料(錫膏、鋼網(wǎng)、焊錫絲等)、設備(烙鐵功率等)和參數(回流曲線(xiàn)、波峰焊參數、手焊溫度等)信息;

 

(3)失效情境:PCB或PCBA失效時(shí)的具體信息,有的是在前處理比如說(shuō)焊接組裝過(guò)程中就已失效,比如可焊性不良、分層等;有的則是在后續的老化、測試甚至使用過(guò)程中失效,比如CAF、ECM、燒板等;需詳細了解失效過(guò)程和相關(guān)參數;

 

PCB/PCBA失效分析

 

一般來(lái)說(shuō)失效品的數量是有限的,甚至僅有一塊,因此對于失效品的分析一定要遵循由外到內,由非破壞到破壞的逐層分析原則,切忌過(guò)早破壞失效現場(chǎng):

 

(1)外觀(guān)觀(guān)察

外觀(guān)觀(guān)察是失效品分析的第一步,通過(guò)失效現場(chǎng)的外觀(guān)形態(tài)并結合背景信息,有經(jīng)驗的失效分析工程師能夠基本判斷出失效的數個(gè)可能原因,并針對性地進(jìn)行后續分析。但需要注意的是,外觀(guān)觀(guān)察的方式很多,包括目視、手持式放大鏡、臺式放大鏡、立體顯微鏡和金相顯微鏡等。然而由于光源、成像原理和觀(guān)察景深的不同,對應設備觀(guān)察出的形貌需要結合設備因素綜合分析,切忌貿然判斷形成先入為主的主觀(guān)臆測,使得失效分析進(jìn)入錯誤的方向,浪費寶貴的失效品和分析時(shí)間。

 

(2)深入無(wú)損分析

有些失效單單采用外觀(guān)觀(guān)察,不能收集到足夠的失效信息,甚至連失效點(diǎn)都找不到,比如分層、虛焊和內開(kāi)等,這時(shí)候需借助其他無(wú)損分析手段進(jìn)行進(jìn)一步的信息收集,包括超聲波探傷、3D X-RAY、紅外熱成像、短路定位探測等。

在外觀(guān)觀(guān)察和無(wú)損分析階段,需注意不同失效品之間的共性或異性特征,對后續的失效判斷有一定借鑒意義。在無(wú)損分析階段收集到足夠的信息后,就可以開(kāi)始針對性的破壞分析了。

 

(3)破壞分析

失效品的破壞分析是不可少的,且是最關(guān)鍵的一步,往往決定著(zhù)失效分析的成敗。破壞分析的方法很多,常見(jiàn)的如掃描電鏡&元素分析、水平/垂直切片、FTIR等,本節不作贅述。在此階段,失效分析方法固然重要,但更重要的是對缺陷問(wèn)題的洞察力和判斷力,并對失效模式和失效機理有正確清楚的認識,方可找到真正的失效原因。

 

裸板PCB分析

 

當失效率很高時(shí),對于裸板PCB的分析是有必要的,可作為失效原因分析的補充。當失效品分析階段得到的失效原因是裸板PCB的某項缺陷導致了進(jìn)一步的可靠性失效,那么若裸板PCB有同樣的缺陷時(shí),經(jīng)過(guò)與失效品相同的處理流程后,應體現出與失效品相同的失效模式。若沒(méi)有復現出相同的失效模式,那只能說(shuō)明失效品的原因分析是錯誤的,至少是不全面的。

 

復現試驗

 

當失效率很低且無(wú)法從裸板PCB分析中得到幫助時(shí),有必要對PCB缺陷進(jìn)行復現并進(jìn)一步復現失效品的失效模式,使得失效分析形成閉環(huán)。

 

在面臨著(zhù)PCB可靠性失效日益增多的今天,失效分析對于設計優(yōu)化、工藝改善、材料選型提供了重要的第一手信息,是可靠性增長(cháng)的起點(diǎn)。

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